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  • 頭條基于場(chǎng)路耦合的大功率IGBT多速率電熱聯(lián)合仿真方法
    2021-06-10 作者:賈英杰 肖飛 等  |  來(lái)源:《電工技術(shù)學(xué)報(bào)》  |  點(diǎn)擊率:
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    導(dǎo)語(yǔ)IGBT模塊在以短路為代表的非周期過(guò)載極端工況中,其自熱效應(yīng)明顯。由于高壓、大電流等外載荷的沖擊,IGBT的溫度會(huì)在短時(shí)內(nèi)迅速升高,進(jìn)而影響IGBT芯片的半導(dǎo)體特性以及封裝結(jié)構(gòu)的材料特性,并最終直觀表現(xiàn)為模塊端口電氣特性的變化。此時(shí),需要同時(shí)關(guān)注IGBT的電氣特性與溫度分布特性,而電問(wèn)題與熱問(wèn)題在時(shí)間尺度上的差異為電熱耦合仿真帶來(lái)了不便。 基于此,海軍工程大學(xué)艦船綜合電力技術(shù)國(guó)防科技重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室的研究人員賈英杰、肖飛、羅毅飛、劉賓禮、黃永樂(lè),在2020年第9期《電工技術(shù)學(xué)報(bào)》上撰文,提出一種基于場(chǎng)路耦合的電熱聯(lián)合仿真方法。首先闡述IGBT場(chǎng)路耦合聯(lián)合仿真的基本原理;然后分別在Simulink與COMSOL中構(gòu)建基于IGBT物理模型的電路模型以及基于有限元的熱模型,通過(guò)Matlab控制腳本實(shí)現(xiàn)了多速率仿真策略下的電熱聯(lián)合仿真;最后以ABB 3.3kV/1 500A大功率IGBT模塊為例,通過(guò)開(kāi)關(guān)暫態(tài)測(cè)試和短路測(cè)試對(duì)所提出的仿真方法進(jìn)行了驗(yàn)證。

    絕緣柵雙極型晶體管(Insulated Gate Bipolar Transistor, IGBT)具有驅(qū)動(dòng)控制簡(jiǎn)單、開(kāi)關(guān)頻率高、導(dǎo)通電壓低、通態(tài)電流大、損耗小等優(yōu)點(diǎn),是高壓、大容量電力電子變換裝置的核心部件。在運(yùn)行過(guò)程中,IGBT在電載荷作用下會(huì)產(chǎn)生功率損耗,進(jìn)而引起模塊溫度的升高。

    溫度是半導(dǎo)體器件的敏感參數(shù),不僅會(huì)影響IGBT的端口電氣特性,同時(shí)也會(huì)影響封裝結(jié)構(gòu)的材料特性(如熱導(dǎo)率、熱容、熱膨脹系數(shù)等)。這種電熱耦合效應(yīng)是動(dòng)態(tài)連續(xù)的,因此只有同時(shí)對(duì)傳熱問(wèn)題和電問(wèn)題進(jìn)行求解才能精確表征IGBT的電熱特性。

    此外,理論和實(shí)踐證明,在高壓、大電流等極端工況下IGBT的自熱效應(yīng)非常顯著,溫度超標(biāo)也是導(dǎo)致器件失效、損壞以及性能退化的主要原因。尤其在以短路工況以及電磁發(fā)射、高壓直流斷路器等應(yīng)用為代表的短時(shí)、非周期極端過(guò)載條件下,IGBT處于高電壓、大電流、高溫等應(yīng)力疊加的暫態(tài)過(guò)程,失效的概率和風(fēng)險(xiǎn)急劇增加。

    因此,電路和裝置設(shè)計(jì)人員需要一種能夠準(zhǔn)確反映IGBT自熱效應(yīng)的電熱耦合模型,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)極端工況下IGBT電氣特性以及溫度特性的精確模擬,這對(duì)IGBT器件及電力電子裝置的工作特性分析以及可靠性評(píng)估等問(wèn)題都具有重大的理論意義和應(yīng)用價(jià)值。

    針對(duì)IGBT器件的電熱耦合建模,國(guó)內(nèi)外學(xué)者已開(kāi)展了較多研究,但是多有不足之處。因此,為構(gòu)建適用于非周期過(guò)載極端工況,并充分考慮IGBT自熱效應(yīng)的電熱耦合模型,海軍工程大學(xué)艦船綜合電力技術(shù)國(guó)防科技重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室的研究人員,綜合了IGBT物理模型與FEM模型的優(yōu)勢(shì),提出了一種基于場(chǎng)路耦合的電熱聯(lián)合仿真方法。

    基于場(chǎng)路耦合的大功率IGBT多速率電熱聯(lián)合仿真方法

    圖1 待測(cè)IGBT模塊的封裝結(jié)構(gòu)

    基于場(chǎng)路耦合的大功率IGBT多速率電熱聯(lián)合仿真方法

    圖2 場(chǎng)路耦合電熱模型仿真原理

    針對(duì)大功率IGBT應(yīng)用于非周期過(guò)載極端工況下的建模、仿真以及可靠性分析等問(wèn)題,研究人員分別在Simulink與COMSOL中構(gòu)建了基于IGBT物理模型的電路模型與基于有限元的熱場(chǎng)模型。以短路工況為例,通過(guò)場(chǎng)路耦合的電熱聯(lián)合仿真研究了ABB 3.3kV/1 500A大功率IGBT模塊的電熱特性,仿真與實(shí)驗(yàn)結(jié)果證明了建模方法的正確性。

    基于場(chǎng)路耦合的大功率IGBT多速率電熱聯(lián)合仿真方法

    圖3 聯(lián)合仿真計(jì)算過(guò)程

    所提出的場(chǎng)路耦合仿真方法綜合考慮了芯片、鍵絲等多熱源的影響,具有計(jì)算精度高、仿真速度快的優(yōu)點(diǎn),能夠較好地反映極端工況下芯片自熱效應(yīng)對(duì)IGBT模塊電熱特性的影響。

    未來(lái)研究人員將所建立的電熱模型進(jìn)一步擴(kuò)展為電-熱-力多場(chǎng)耦合模型,進(jìn)而對(duì)多場(chǎng)耦合效應(yīng)下的IGBT電-熱-力特性分析、封裝失效機(jī)理以及特性演變規(guī)律等問(wèn)題開(kāi)展研究。此外,IGBT模塊的動(dòng)態(tài)不均流現(xiàn)象是客觀存在的,這會(huì)進(jìn)一步凸顯器件失效的“短板效應(yīng)”。本次研究著重闡述了場(chǎng)路耦合仿真方法,因此并未對(duì)此問(wèn)題開(kāi)展進(jìn)一步研究。通過(guò)本次研究的仿真方法,可進(jìn)一步對(duì)考慮動(dòng)態(tài)不均流條件下的可靠性進(jìn)行分析,這也是后續(xù)需要解決的問(wèn)題之一。

    以上研究成果發(fā)表在2020年第9期《電工技術(shù)學(xué)報(bào)》,論文標(biāo)題為“基于場(chǎng)路耦合的大功率IGBT多速率電熱聯(lián)合仿真方法”,作者為賈英杰、肖飛、羅毅飛、劉賓禮、黃永樂(lè)。

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