絕緣拉桿作為高壓開關(guān)設(shè)備(hybrid gas insulated switchgear, HGIS)中的重要元件,起到連接各類傳動機構(gòu)和本體高壓電極的重要作用。由于其承受著高壓帶電部分與零電位部分之間很大的電壓降,一旦內(nèi)部混有氣隙或雜質(zhì),在長期高場強作用下極有可能導(dǎo)致絕緣材料老化與絕緣內(nèi)部損壞。故其生產(chǎn)工藝是否可靠,出廠檢驗是否認真細致直接影響HGIS以及電網(wǎng)的安全與穩(wěn)定。
2017年11月24日,某變電站500kV線路5032、5033開關(guān)A相跳閘,5033開關(guān)重合不成功并強送失敗(現(xiàn)場接線圖如圖1所示)。該線路全長67.76km,PCS—931A保護縱聯(lián)差動保護動作,測距0km,故障相(A相)電流17 500A,線路PSL—603UA保護分相差動動作,測距0.079km,故障相(A相)電流17 460A。
圖1 接線示意圖
該變電站5032、5033開關(guān)單元為國內(nèi)某廠家生產(chǎn)的ZF16—550GCB型HGIS,2017年6月30日投運,尚未達到首檢周期。交接試驗和最近一次帶電測試數(shù)據(jù)均無異常,故障發(fā)生時變電站內(nèi)無相關(guān)倒閘操作。
現(xiàn)場檢查5032、5033間隔一次設(shè)備外觀及相應(yīng)氣室壓力均正常,隨即進行了SF6氣體檢測,結(jié)果見表1。
表1 各氣室SF6氣體測試結(jié)果
檢測發(fā)現(xiàn)相應(yīng)氣室SF6純度及濕度均正常,但50322A相刀閘氣室氣體檢測口有大量白色粉末,SO2、H2S含量超過100◆L/L,且伴有大量CO以及HF產(chǎn)生,5033A相開關(guān)氣室SO2超標(biāo)。初步判斷50322A相刀閘氣室發(fā)生嚴重放電,5033A相開關(guān)氣室SO2超標(biāo)為故障過程中重合閘開斷所致,需立即進行處理。
由于現(xiàn)場不具備解體條件,故決定將50322A相刀閘進行更換并送至廠房解體,同時更換5032和5033開關(guān)氣室的SF6氣體。12月5日,現(xiàn)場完成更換工作并順利送電。
50322A相刀閘送至廠房后進行了詳細解體,其氣室結(jié)構(gòu)如圖2所示。
圖2 隔離開關(guān)氣室結(jié)構(gòu)
2.1 絕緣拉桿
該刀閘絕緣拉桿已斷裂成若干塊,其高電位側(cè)(與動觸頭相連的一端)U形槽處存在裂口,內(nèi)外部表層均已碳化,但仍保持管型。中間部分裂成3塊,存在不同程度碳化現(xiàn)象。地電位側(cè)分裂成3塊,碳化程度相對較輕(如圖3所示),懷疑該絕緣拉桿從U形槽方向發(fā)生開裂。
圖3 斷裂的絕緣拉桿與正常桿對比
2.2 水平盆式絕緣子
水平盆式絕緣子表面存在明顯的由高電位到地電位的貫穿性放電通道,且該通道處環(huán)氧樹脂已發(fā)生碳化,絕緣子表面存在油狀附著物和粉末堆積(如圖4所示)。
對絕緣子上樣塊、表面油狀附著物、堆積的分解物粉末分別取樣并使用能量色散X射線能譜儀進行成分分析(結(jié)果見表2),未發(fā)現(xiàn)外部侵入組成,油狀分解物判斷為環(huán)氧樹脂分解產(chǎn)物。
圖4 水平盆式絕緣子凸面圖
2.3 屏蔽罩
動觸頭屏蔽罩上部存在噴塑層高溫融化后滿布白點的附著層,無燒穿痕跡。但屏蔽罩下半部、尾部(屏蔽絕緣拉桿與金屬接頭連接位置)以及水平絕緣子的屏蔽罩處均存在燒穿的孔洞現(xiàn)象,分別如圖5和圖6所示。
表2 樣本組分分析
圖5 屏蔽罩尾部燒穿孔
圖6 水平絕緣子屏蔽罩燒穿孔
2.4 豎直盆式絕緣子
豎直盆式絕緣子上半部因高溫氣體熏烤變色,無閃絡(luò)、燒蝕痕跡。
2.5 機構(gòu)側(cè)端蓋
端蓋底部靠近收口位置有明顯的燒蝕坑(如圖7所示),判斷為落弧點,從落弧點位置進行取樣分析(見表3),未見不合理的外物侵入組成。
2.6 罐體
罐體內(nèi)部沒有燒蝕點,罐體上部較為干凈,底部因高溫炙烤變色,表面附著氣體分解物。
2.7 接地開關(guān)
隔離開關(guān)發(fā)生絕緣故障后,調(diào)度曾操作隔離開關(guān)分閘、接地開關(guān)合閘,經(jīng)解體確認,隔離開關(guān)分閘失敗,接地開關(guān)合閘成功,接地開關(guān)動觸頭屏蔽罩脫落,掉落在水平絕緣子凸面上,如圖8所示。
圖7 機構(gòu)側(cè)端蓋
表3 機構(gòu)側(cè)端蓋樣本組分分析
圖8 接地開關(guān)屏蔽罩脫落
3.1 隔離開關(guān)靜電場仿真計算
為驗證該隔離開關(guān)結(jié)構(gòu)設(shè)計的可靠性,對其內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行了等比例靜電場仿真,同時按照施加數(shù)值最高的雷電沖擊耐受電壓(1675kV)作為邊界條件進行計算,得出以下結(jié)論:
1)隔離開關(guān)內(nèi)部最大場強分別位于絕緣拉桿動靜觸頭側(cè)屏蔽罩處,分別為24.4kV/mm和21.6kV/mm。
2)絕緣拉桿表面電場強度呈駝峰型分布,主要集中在離絕緣拉桿高壓側(cè)端部約40~60mm處,最大場強為11.4kV/mm。
3)動側(cè)屏蔽罩最外側(cè)、絕緣拉桿表面、靜側(cè)屏蔽罩和下方盆式絕緣子屏蔽罩處的電場強度較大。在不同電壓形式下的最大電場強度計算結(jié)果見表4。
表4
由于絕緣件的沿面絕緣以及金屬屏蔽件在SF6氣隙中絕緣的設(shè)計基準(zhǔn)均取決于雷電沖擊電壓下的極限場強,故廠家的絕緣設(shè)計基準(zhǔn)通常按照雷電沖擊電壓進行設(shè)計。而550kV HGIS用隔離開關(guān)額定壓力為0.4MPa(20℃表壓),絕緣拉桿沿面電場強度許用值為18.5kV/mm,該廠家廠內(nèi)在該壓力下絕緣拉桿沿面電場強度許用值為12kV/mm,判斷不存在設(shè)計缺陷。
3.2 絕緣拉桿閃絡(luò)原因分析
該絕緣拉桿由組合電器廠家附屬廠制造,采用真空壓力浸膠工藝,制造過程中首先需要利用玻璃纖維布層層纏繞,然后在真空環(huán)境下使環(huán)氧樹脂緩慢浸潤玻璃纖維材料,排除增強纖維體系內(nèi)部的微氣泡,再借助給環(huán)氧樹脂體系加壓的方式保證組織結(jié)構(gòu)致密,使玻璃纖維與環(huán)氧樹脂融合成為整體。檢查使用材料的理化試驗報告和絕緣拉桿整體試驗報告均正常。
通過復(fù)原隔離開關(guān)絕緣拉桿,發(fā)現(xiàn)斷裂的絕緣拉桿層間已經(jīng)失去粘合力,呈蓬松狀態(tài)。斷裂的絕緣拉桿中間部分靠近高電位側(cè)分層的層間有4個放電點,部分放電點已經(jīng)擊穿多層玻璃布,如圖9所示。
圖9 絕緣拉桿上的放電點
由此判斷,絕緣拉桿閃絡(luò)的原因為其內(nèi)部存在局放起始點,長期的局放作用使得絕緣拉桿材質(zhì)劣化,導(dǎo)致貫穿性的絕緣擊穿。擊穿后,絕緣拉桿部分碳化,致使從承受應(yīng)力能力稍弱的U形槽處開始斷裂(如圖10所示),最終在電弧和分閘力量的共同作用下,整體斷裂。
圖10 斷裂絕緣拉桿的復(fù)原圖
3.3 水平盆式絕緣子閃絡(luò)原因分析
通過剝除水平盆式絕緣子放電通道處的分解物進行著色試驗,未發(fā)現(xiàn)裂紋等制造缺陷。盆式絕緣子的絕緣電阻實測大于7000MΩ(要求不低于5000MΩ)、玻璃化溫度檢測119.03℃(要求大于 105℃),測試結(jié)果均合格,故可確認盆式絕緣子無內(nèi)部質(zhì)量缺陷,盆式絕緣子閃絡(luò)的原因應(yīng)為絕緣拉桿擊穿后分解物掉落在水平盆式絕緣子凸面,引發(fā)盆式絕緣子貫穿性絕緣擊穿。
3.4 接地開關(guān)屏蔽罩脫落原因分析
接地開關(guān)屏蔽罩末端(固定端)呈現(xiàn)不規(guī)則斷痕,中間觸頭處的安裝螺釘固定情況良好,屏蔽罩沒有燒穿痕跡,表面熏烤變黑色。判斷應(yīng)是絕緣拉桿閃絡(luò)擊穿后,斷路器重合閘時,電弧能量加熱隔離開關(guān)內(nèi)氣體,膨脹的氣體向壓力較低的母線單元擴散,產(chǎn)生強烈氣吹,高溫氣體使得接地屏蔽罩固定部分軟化,最終被吹落。
綜上所述,該隔離開關(guān)的故障發(fā)展過程如下:
1)隔離開關(guān)絕緣拉桿因內(nèi)部微小缺陷,長期運行時存在持續(xù)的局部放電,逐漸破壞絕緣拉桿的絕緣性能。
2)局部放電逐步發(fā)展,最終擴展成絕緣拉桿沿面閃絡(luò),閃絡(luò)路徑為高壓側(cè)絕緣拉桿內(nèi)部缺陷處→絕緣拉桿內(nèi)表面→機構(gòu)側(cè)端蓋。
3)斷路器重合閘,短路電流的能量一方面使得絕緣拉桿碳化程度加重、動觸頭屏蔽罩燒損;另一方面導(dǎo)致隔離開關(guān)內(nèi)部壓力升高,氣流向低壓側(cè)擴散時吹落接地屏蔽罩,連同絕緣拉桿擊穿產(chǎn)物一起掉落在水平盆式絕緣子凸面上,導(dǎo)致絕緣子發(fā)生沿面閃絡(luò),電弧通道在絕緣子嵌件到密封槽處的罐體之間形成。
4)斷路器強送時,電弧在水平盆式絕緣子凸面已經(jīng)形成的放電通道之間流過,導(dǎo)致絕緣子凹凸面之間燒穿。
5)故障發(fā)生后,設(shè)備轉(zhuǎn)檢修過程中,隔離開關(guān)分閘操作,已經(jīng)碳化的絕緣拉桿徹底崩裂。
絕緣拉桿作為隔離開關(guān)中的重要元件,生產(chǎn)后需要經(jīng)過燈光照射探傷、動作試驗以及局放耐壓試驗等一系列檢測方可投入安裝使用。現(xiàn)有資料表明,其最常見的故障原因為內(nèi)部存在氣隙或雜質(zhì)時,缺陷附近電場極易畸變而發(fā)生局部放電,在長期電場和局部放電作用下,導(dǎo)致絕緣拉桿絕緣失效。
本次故障充分反映了該HGIS廠家在生產(chǎn)質(zhì)量管理體系中的漏洞,針對本次事故,提出以下措施建議:
1)嚴格執(zhí)行工藝紀(jì)律要求,保證絕緣件生產(chǎn)工藝和過程受控,嚴格執(zhí)行絕緣制品的質(zhì)量檢查規(guī)范和試驗標(biāo)準(zhǔn),堅持對絕緣件全部逐件檢查試驗,保證絕緣件質(zhì)量符合要求。
2)完善檢查絕緣拉桿微小缺陷的手段,具體包括:
3)將絕緣拉桿局放測試電壓和時間適當(dāng)提高,記錄觀測區(qū)間波形數(shù)據(jù)。
以上研究成果發(fā)表在2021年第2期《電氣技術(shù)》,論文標(biāo)題為“500kV高壓開關(guān)設(shè)備隔離開關(guān)絕緣拉桿故障分析”,作者為于曉翔。