諸如低壓斷路器、熱過載繼電器等過流保護(hù)電器,因其能及時(shí)分?jǐn)噙^載短路等故障電流,保護(hù)負(fù)載設(shè)備免受過電流危害,在低壓配電系統(tǒng)中起著非常重要的作用。
對(duì)于承受斷續(xù)過流能力較差的負(fù)載設(shè)備(如電動(dòng)機(jī)負(fù)載),要求過流保護(hù)電器要具有較好的過流合閘再脫扣能力,即脫扣后短時(shí)間再過流合閘時(shí)能在較短時(shí)間內(nèi)再脫扣的能力,防止負(fù)載設(shè)備頻繁斷續(xù)工作,如電動(dòng)機(jī)頻繁起動(dòng),出現(xiàn)燒損的現(xiàn)象。
熱磁式過流保護(hù)電器由于其雙金屬片結(jié)構(gòu)具有受熱逐漸彎曲冷卻逐漸恢復(fù)的特性,因此具有較好的過流合閘再脫扣能力,但電子式過流保護(hù)電器并無雙金屬片結(jié)構(gòu),只能通過電子保護(hù)單元采用某些特定方式去模擬類似雙金屬片受熱彎曲冷卻恢復(fù)的特性,以使其也具備較好的過流合閘再脫扣能力。于是,電子式過流保護(hù)器的“熱記憶”功能便應(yīng)運(yùn)而生。
所謂的熱記憶功能是指電子式脫扣器通過軟硬件模擬過流保護(hù)設(shè)備或負(fù)載設(shè)備中通電導(dǎo)體熱量累積與消散的過程,同時(shí)存儲(chǔ)這些熱量值。熱記憶功能有脫扣前熱記憶與脫扣后熱記憶之分,本文所述的熱記憶功能為脫扣后的熱記憶功能,即電子式脫扣器存儲(chǔ)脫扣時(shí)的熱量,模擬熱量的消散。
脫扣后熱記憶又分為在線熱記憶與斷電熱記憶兩種。在線熱記憶是指過流保護(hù)電器脫扣后其電子保護(hù)單元不斷電工作實(shí)現(xiàn)熱記憶功能。斷電熱記憶則是指過流保護(hù)電器脫扣后其電子脫扣器斷電工作實(shí)現(xiàn)熱記憶功能。
由于動(dòng)作后電子脫扣器處于仍不斷電工作狀態(tài),因此在線熱記憶實(shí)現(xiàn)方式較為容易,可通過軟件算法②在線模擬通電導(dǎo)體的熱量消散。
相比較在線熱記憶,由于脫扣后電子脫扣器已斷電,因此斷電熱記憶實(shí)現(xiàn)起來相對(duì)困難,其如何存儲(chǔ)脫扣時(shí)的熱量及如何模擬熱量消散是其兩大難點(diǎn)。
本文將著重介紹斷電熱記憶的實(shí)現(xiàn)方式。
1 現(xiàn)有技術(shù)
斷電熱記憶的現(xiàn)有處理方式為:電子脫扣器中的微控制器MCU通過采樣線路上的各相極電流,并利用軟件熱模擬算法,將電流轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的熱量值,然后通過一定的方式輸送到外部器件進(jìn)行斷電保存,最后通過電容放電方式來模擬熱量的消散。
圖1 斷電熱記憶實(shí)施框圖
實(shí)際實(shí)施技術(shù)如圖1所示:當(dāng)采樣到過載電流時(shí),微控制器輸出一定寬度的脈沖來控制充放電電路中的充電電容達(dá)到一定的電壓值,該電壓值為過載電流延時(shí)預(yù)設(shè)的一定時(shí)間要?jiǎng)幼骰蛎摽郏辞袛嗑€路)所積累的熱量值的比例值。
脫扣后,微控制器斷電,充電電容開始慢慢放電。之后再合閘時(shí),微控制器重新得電并開始采樣充電電容的剩余電壓,再將剩余電壓轉(zhuǎn)換成等比例的剩余熱量值。該熱量值將作為微控制器再次熱量累積的初始值。
2 技術(shù)不足
上述技術(shù)存在一個(gè)技術(shù)困難點(diǎn):需要對(duì)充電電容的充電電壓進(jìn)行監(jiān)測以控制要達(dá)到的充電電壓,因此需要不斷閉環(huán)調(diào)整脈沖寬度,微控制器軟件處理較為復(fù)雜。
為減小軟件處理的復(fù)雜度,另有其它技術(shù)試圖通過硬件電路的方式來閉環(huán)調(diào)整充電電容的充電電壓,即微控制器通過內(nèi)置的DA模塊或外加的DA芯片輸出充電電容要達(dá)到的目標(biāo)電壓值,充電電容的充電利用該目標(biāo)電壓進(jìn)行閉環(huán)自動(dòng)調(diào)整。該處理技術(shù)雖減小了軟件處理復(fù)雜度,但增加了硬件開銷。
上述處理技術(shù)雖然通過犧牲硬件開銷方式解決了軟件設(shè)計(jì)復(fù)雜的問題,但仍忽略另外一個(gè)關(guān)鍵問題:僅對(duì)各相極中最大累積熱量相極進(jìn)行熱記憶,未對(duì)各相極分開處理,這樣對(duì)于負(fù)載不平衡的線路,將可能導(dǎo)致過流保護(hù)電器“早跳”。
為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,本文提出了一種處理簡單、實(shí)現(xiàn)容易的新型熱記憶技術(shù),通過鐵電存儲(chǔ)器等非易失存儲(chǔ)器來“記憶”各相極累積的熱量值,采用電容放電來模擬熱量的消散,并根據(jù)電容剩余電壓值來換算成各相極的剩余熱量值,從而實(shí)現(xiàn)熱記憶。
1 電路原理
本文提出的新型熱記憶電路如圖2示:
圖2 新型斷電熱記憶電路
電路中,通過電阻R1與R2分壓采樣實(shí)時(shí)判斷電子脫扣器是否脫扣斷電;由二極管D1、電容C1、電容C2及低壓差線性穩(wěn)壓器LDO構(gòu)成儲(chǔ)能電路,該儲(chǔ)能電路作用是保證過流保護(hù)電器脫扣后其電子脫扣器仍有足夠的時(shí)間進(jìn)行熱量存儲(chǔ)。
電阻R3、三極管Q1、電容C3及電阻R4則構(gòu)成電容充放電控制電路,通過該控制電路,達(dá)到利用電容放電模擬通電導(dǎo)體熱量消散過程的目的;通過運(yùn)放U1A、電阻R5和電容C4構(gòu)成了電容C3電壓檢測電路,實(shí)現(xiàn)再合閘時(shí)放電電容剩余電壓的檢測;其中非易失存儲(chǔ)器(如上文提到的鐵電存儲(chǔ)器)是用來存儲(chǔ)脫扣時(shí)的熱量。
2 實(shí)現(xiàn)過程
正常運(yùn)行時(shí),電子式脫扣器通過內(nèi)部的電流電壓轉(zhuǎn)換電路輸出供電電壓VCC1;VCC1向電容C1、C2充電完成蓄電工作,同時(shí)經(jīng)過低壓差線性穩(wěn)壓器LDO輸出微處理器MCU及其外圍電路的工作電壓VCC2;微處理器MCU通過電流互感器檢測線路中的電流,并換算成熱量值,同時(shí)控制電容C3持續(xù)充電在滿額電壓狀態(tài)。
當(dāng)脫扣斷電時(shí),供電電壓VCC1消失,微處理器可通過斷電判斷電路立即檢測到電子脫扣器斷電,同時(shí)儲(chǔ)能電容C1、C2開始向低壓差線性穩(wěn)壓器LDO供電,保證了微處理器MCU及其外圍電路可以短暫地續(xù)能工作;微處理器MCU在蓄電工作期間將當(dāng)前的各相極的熱量值保存至非易失存儲(chǔ)器中,并停止對(duì)電容C3充電;之后,電容C3通過電阻R4開始放電,模擬熱量的消散。
當(dāng)再合閘時(shí),供電電壓VCC1、VCC2重新上電,電子式脫扣器也重新得電工作,此時(shí)微處理器MCU采樣電容C3上的剩余電壓,同時(shí)讀取存儲(chǔ)在非易失存儲(chǔ)器內(nèi)脫扣時(shí)的熱量。
最后依剩余電壓值與滿額電壓值的比例,根據(jù)電容放電公式與電壓熱量轉(zhuǎn)換公式,推算得出再合閘時(shí)各相極的剩余熱量值,完成熱記憶。
3 試驗(yàn)結(jié)果
本文將該熱記憶技術(shù)運(yùn)用于本公司的電子式塑殼斷路器產(chǎn)品,并對(duì)其熱記憶功能進(jìn)行測試,得到2組試驗(yàn)數(shù)據(jù)分別如表1、2所示。
表1 試驗(yàn)結(jié)果
表2 試驗(yàn)結(jié)果
由試驗(yàn)數(shù)據(jù)得出:當(dāng)熱記憶功能開啟時(shí),斷路器脫扣再合閘的間隔時(shí)間越短,其過載再脫扣用時(shí)就越短,這也說明了該電子式塑殼斷路器具有過流合閘再脫扣能力較好。
4 技術(shù)優(yōu)勢
相比較現(xiàn)有斷電熱記憶技術(shù),本文提出的斷電熱記憶技術(shù)具有如下優(yōu)點(diǎn):
本文針對(duì)過流保護(hù)電器現(xiàn)有斷電熱記憶技術(shù)存在的問題點(diǎn),提出一種新型的熱記憶處理設(shè)計(jì)方案,具有保護(hù)合理,結(jié)構(gòu)簡單,容易實(shí)現(xiàn)等優(yōu)點(diǎn),并已應(yīng)用于本公司的電子式塑殼斷路器及電子式熱繼電器產(chǎn)品上,性能優(yōu)越,保護(hù)準(zhǔn)確可靠。
本文編自《電氣技術(shù)》,標(biāo)題為“過流保護(hù)電器熱記憶功能的新型實(shí)現(xiàn)方式”,作者為林宜。